O Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) de 4ª geração MIRA de TESCAN com a fonte de emissão de elétrons da FEG Schottky combina imagens SEM e análise da composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o MIRA SEM uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina de materiais nos laboratórios de controle de qualidade.